經(jīng)過百年的發(fā)展，目前市場(chǎng)上掃描電子顯微鏡的加速電壓范圍一般都在200V~30kV之間。加速電壓越高，電子束波長(zhǎng)越短，掃描電鏡的分辨力越高。當(dāng)對(duì)不同試樣進(jìn)行不同目的地觀測(cè)時(shí)，往往要調(diào)節(jié)加速電壓和束流參數(shù)。那么加速電壓應(yīng)該如何選取，加速電壓究竟會(huì)對(duì)掃描電鏡的觀測(cè)造成哪些影響呢？掃描電鏡激發(fā)試樣的能量主要取決于入射束的加速電...
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2022-04-28
上期介紹了鎢燈絲掃描電子顯微鏡電子發(fā)射原理以及使用過程中應(yīng)該注意的問題。因?yàn)殒u燈絲的總發(fā)射電流較大、性能較為穩(wěn)定，在近百年的時(shí)間內(nèi)都大量地應(yīng)用在透射電鏡、掃描電鏡的電子源上。雖然鎢陰極電子槍的亮度不是很理想，不過對(duì)于多數(shù)不需要很高亮度電子槍的電鏡來說，鎢燈絲的性能基本可達(dá)到要求。綜合來看，影響鎢陰極壽命的主要原因和改進(jìn)...
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2022-04-22
在現(xiàn)代科學(xué)微觀分析領(lǐng)域中，掃描電子顯微鏡已經(jīng)成為不可或缺的電子顯微分析設(shè)備。它操作起來簡(jiǎn)單、效率高，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛、實(shí)用。相較于電子探針，掃描電鏡不僅有著較高的形貌分辨力，同時(shí)可搭配不同配件進(jìn)而做成分分析。秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計(jì)目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲臺(tái)式掃描電子顯微鏡ZEM15。國(guó)產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡那...
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2022-04-15
隨著現(xiàn)代科技的發(fā)展，掃描電鏡及其組合分析功能相繼出現(xiàn)，如微熱臺(tái)和冷臺(tái)系統(tǒng)，主要用于觀察和分析材料在加熱過程中微觀結(jié)構(gòu)的變化和冷凍；平臺(tái)系統(tǒng)主要用于觀察和分析受力過程中發(fā)生的微觀結(jié)構(gòu)變化。掃描電鏡結(jié)合其他設(shè)備的新分析功能，在新材料、新工藝的探索和研究中發(fā)揮著重要作用。那么掃描電鏡的工作原理是怎樣的呢？接下來
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2022-04-08
相變隨機(jī)存取存儲(chǔ)器（Phase-change random-access memory，PCRAM）是具有潛力的新一代非易失性存儲(chǔ)器，是業(yè)界、學(xué)界的研究熱點(diǎn)。PCRAM顯著的特性在于高操作速度且數(shù)據(jù)非易失性：高溫（600-700 K）下，相變存儲(chǔ)材料可實(shí)現(xiàn)納秒乃至亞納秒級(jí)高速晶化，而在室溫下，非晶態(tài)數(shù)據(jù)可實(shí)現(xiàn)十年以上的...
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2022-03-25
問：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以做原位光學(xué)測(cè)試嗎？答：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以搭載各品類PicoFemto原位樣品臺(tái)，輕松完成加熱、拉伸、低溫、電學(xué)測(cè)試、光學(xué)測(cè)試等原位SEM測(cè)量功能，詳情請(qǐng)?jiān)兛头?guó)產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡以上就是澤攸科技小編對(duì)ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以做原位光學(xué)測(cè)試的回答，想要了解臺(tái)式掃描電鏡價(jià)格及更多的問題...
MORE INFO → 常見問題 2022-03-25
問：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以做原位SEM拉伸實(shí)驗(yàn)嗎？答：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以搭載各品類PicoFemto原位樣品臺(tái)，輕松完成加熱、拉伸、低溫、電學(xué)測(cè)試、光學(xué)測(cè)試等原位SEM測(cè)量功能，詳情請(qǐng)?jiān)兛头?guó)產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡以上就是澤攸科技小編對(duì)ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以做原位SEM拉伸實(shí)驗(yàn)的回答，想要了解臺(tái)式掃描電鏡價(jià)格...
MORE INFO → 常見問題 2022-03-25
問：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測(cè)試嗎？答：ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以搭載各品類PicoFemto原位樣品臺(tái)，輕松完成加熱、拉伸、低溫、電學(xué)測(cè)試、光學(xué)測(cè)試等原位SEM測(cè)量功能，詳情請(qǐng)?jiān)兛头?guó)產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡以上就是澤攸科技小編對(duì)ZEM15臺(tái)式掃描電鏡可以在低溫下給樣品測(cè)試的回答，想要了解臺(tái)式掃描電鏡價(jià)格及更...
MORE INFO → 常見問題 2022-03-25
