掃描電鏡在選用低加速電壓開展觀測時，從樣品表層激發出的二次電子能量普遍偏低，這類電子在向探測器行進的途中極易受到樣品表面電場、殘余磁場以及腔體內部氣體分子的干擾。二次電子的逸出深度被限制在樣品極薄的表層區間，信號幾乎完全來源于表面數納米范圍，能夠忠實反映表層形貌變化，但信號本身的穿透能力薄弱，如果樣品表面存在極薄的氧化層或者吸附污染物，就會直接阻擋一部分二次電子向外逸出，削弱局部信號強度。

不同材質、不同晶面的表面功函數存在差異，會改變電子逸出的難易程度，讓成像襯度不再單純由幾何形貌決定，出現形貌相近區域明暗不一致的現象。與此同時，探測器收集柵壓的設置會篩選不同能量區間的低能電子，柵壓參數調整之后，被捕獲的電子占比隨之變化，直接改變整張圖像的襯度基調，這也是同一樣品更換觀測參數之后畫面觀感出現明顯區別的核心原因。