掃描電鏡拍攝圖像時出現顆粒狀噪點，畫面粗糙，微小形貌細節被噪聲掩蓋，就是圖像信噪比偏低。噪點會干擾微觀形貌判斷，嚴重時無法分辨樣品表面細微紋理，給后續形貌分析帶來阻礙，在低原子序數樣品、低加速電壓觀測場景更容易出現。

信噪比本質是有效二次電子信號和隨機噪聲的比值。主要成因是采集到的二次電子信號總量不足。低加速電壓條件下，電子束激發的二次電子產額低；樣品導電性差，部分信號被荷電效應干擾；束流設置過小，電子束發射電子數量少，單位時間內采集信號有限，統計噪聲就會明顯顯現。此外，探測器工作狀態不佳、鏡筒內殘留污染，會降低信號收集效率。掃描速度過快，單點駐留時間短，探測器采集信號樣本數量不足，統計波動變大，噪點顯著增多。環境微小震動、磁場干擾，也會疊加額外噪聲。

提升圖像信噪比有多種可行方案。適當增大束流，提升二次電子激發總量，在不損傷樣品的前提下增加信號強度；延長像素駐留時間，或者開啟幀疊加平均模式，多次掃描同一區域做信號平均，有效抑制隨機噪點。合理選擇加速電壓，根據樣品材質匹配電壓參數，平衡信號強度與樣品損傷。對于絕緣樣品，可采用鍍導電膜處理，抑制荷電，穩定二次電子信號。檢查二次電子探測器狀態，做好鏡筒維護，減少內部碳污染，保障信號收集效率。觀測時做好設備減震，遠離大功率電器，降低外界電磁干擾。如果樣品敏感不耐電子輻照，不能一味提高束流，優先采用多幀疊加降噪，兼顧圖像質量與樣品保護。