在掃描電鏡（SEM）中，次級電子和反射電子是兩種重要的電子信號類型，它們在形成圖像和提供樣品信息方面發揮著關鍵作用。

次級電子：次級電子是由于電子束與樣品表面相互作用后，從樣品表面解離出來的電子。這些電子對應的圖像稱為次級電子圖像，它們在SEM中生成樣品的表面形貌和紋理圖像。次級電子圖像主要用于顯示樣品的表面特征，因為次級電子對樣品表面的形貌和拓撲結構非常敏感。樣品表面的凸凹不平和化學組成的變化都會在次級電子圖像中表現出來。

反射電子：反射電子是由電子束與樣品原子核之間的庫侖散射作用產生的電子。這些電子被散射回到探測器，形成反射電子圖像。反射電子圖像主要用于顯示樣品的原子序數和密度變化。相對于次級電子圖像，反射電子圖像提供更多關于樣品成分和材料的密度變化信息。因此，反射電子圖像在分析材料的元素組成和晶體結構方面非常有用。

通過同時采集次級電子圖像和反射電子圖像，可以綜合獲得關于樣品表面形貌和成分的詳細信息。這兩種電子信號在SEM中的應用使得我們能夠對材料進行高分辨率的觀察和分析，從而在材料科學、納米科技、生物學等領域中提供重要的研究工具。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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