掃描電鏡（SEM）的自動對焦和自動標記功能是現代SEM系統的一部分，用于提高操作的便捷性和分析效率。

自動對焦： 自動對焦功能允許SEM系統自動調整焦距，以確保獲取清晰的圖像。它通過檢測電子束反射或二次電子發射的信號，并根據信號強度來調整電子束的位置，從而獲得適合的焦點。這對于在不同區域進行高分辨率成像或處理不同高度的樣品表面特別有用。自動對焦可以提高圖像的質量并減少操作人員的干預。

自動標記： 自動標記功能允許用戶在SEM圖像上添加標記、注釋或測量點，而無需手動干預。這對于在圖像上標識感興趣的特征、測量顆粒大小、距離或角度等非常有用。用戶可以在圖像上選擇位置并添加文本、線條、箭頭或其他形狀，以便后續的分析和報告。自動標記功能可以提高工作效率，減少人為錯誤。

ZEM18臺式掃描電鏡

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